這個季度對蘋果來說可謂是多事之秋，“彎曲門”等事件的頻繁觸發無不將人們的關注點引到了“設計缺陷”上，然而跟最新的用戶反饋來比，這些都已經不算什麼了。
此前很多iPhone 6 Plus的用戶表示他們的手機在使用過程中遭遇了嚴重問題，經常會無故崩潰，導致操作中斷無法進行，或者是進入無限重啟循環中，有些人已經為此找蘋果的售後更換了4部手機。
由於這種問題在128GB版iPhone 6 Plus上出現的機率最大，所以許多用戶都猜測是由於安裝了過多應用，或者是應用與iOS 8.1不兼容導致的，針對第一個說法，一部分用戶表示在未運行任何應用的情況下該問題還是發生了，顯然這個說法並不能解釋該問題的出現原因；而第二種說法更難成立，因為並不可能所有應用均不兼容。
台灣和韓國媒體針對此事給出了最新的解釋，他們稱iPhone 6 Plus出現頻繁崩潰的現象可能是使用的TLC NAND存儲器控制IC的問題，業內人士指出，這很可能是iPhone內部NAND Flash控制的IC品質瑕疵所導致。
報導中強調，蘋果為了節省成本，使用了TLC NAND存儲器控制，雖然存容量更多，但是讀取/寫入的速度比較慢。如果此消息為真，那麼iPhone 6 Plus或許將面臨大規模召回的局面。
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